AGB       Hosting Powered by rockenstein AG      Impressum Transmissionselektronenmikroskopie Philips 420 analytisches TEM / Scanning TEM / SEM:  - Beschleunigungsspannung 20 kV bis 120 kV  - LaB6-Kathode für gute Helligkeit und gute EDX-Spektren  - Getterpumpe für ölfreies Vakuum im Probenraum  - Probengoniometer mit speicherbaren Positionen  - Multi-Detektorsystem bei STEM / SEM-Mode: 1x SE, 1x BSE, STEM-Dunkelfeld, STEM Hellfeld  - Energiedispersive Röntgenanalyse (EDAX 9100)  - Auflösungsgrenze im TEM-Mode ca. 0,25 Nanometer Punkt zu Punkt (Präparatabhängig)  - Auflösungsgrenze im SEM-Mode ca. 4 Nanometer Punkt zu Punkt (Präparatabhängig)  - Elektronischer Bildeinzug bei STEM / SEM in Vorbereitung  - Digitale 1024x1024 Pxel Tietz TN1000 - Kamera für Hochauflösung im TEM-Mode